微小精密器件研發(fā)與品控中，檢測(cè)痛點(diǎn)常成為效率瓶頸：結(jié)構(gòu)精細(xì)易現(xiàn)視角盲區(qū)，傳統(tǒng)設(shè)備難辨內(nèi)部缺陷；設(shè)備體積大，實(shí)驗(yàn)室、辦公室等小空間安置困難；操作復(fù)雜需專人培訓(xùn)，批量檢測(cè)重復(fù)操作耗時(shí)…… 這些問題直接影響工作進(jìn)度與質(zhì)量。
卓茂科技 X5600 X 射線離線檢測(cè)設(shè)備，正是為破解這些難題而來。作為小型精密微焦斑 X 射線智能檢測(cè)設(shè)備，它在保障檢測(cè)精度與多樣性的同時(shí)，兼顧空間適配性與操作便捷性，適配研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、辦公室、品檢室等多種場(chǎng)景。
多維度檢測(cè)，突破視角局限
針對(duì)特殊器件正面檢測(cè)無法識(shí)別缺陷的情況，卓茂科技X5600具備傾斜透視檢測(cè)功能，可通過多角度觀察器件特征，助力缺陷分析。
同時(shí)，其配備的旋轉(zhuǎn)機(jī)械手支持 360° 旋轉(zhuǎn)拍照檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)無死角觀察，讓細(xì)微缺陷無所遁形。若有進(jìn)階檢測(cè)需求，還可選擇錐束 CT 功能，為小尺寸電子元件提供 3D 分析支持。
小巧身形，強(qiáng)大性能
設(shè)備采用小型化設(shè)計(jì)，外形尺寸為 L850xW1000xH1700mm，占地空間小，方便在各類場(chǎng)所安置。雖體型小巧，性能卻不遜色：
搭載反射密封型微焦點(diǎn)射線源，微焦點(diǎn)尺寸達(dá) 15μm，配合非晶硅平板探測(cè)器（像素矩陣 1536x1536，分辨率 5.8Lp/mm），以高分辨設(shè)計(jì)獲得清晰圖像，AD 轉(zhuǎn)換位數(shù)達(dá) 16bits，細(xì)節(jié)呈現(xiàn)更精準(zhǔn)。
此外，設(shè)備輸入電源為 220V 10A 50-60HZ，最大樣品尺寸可達(dá) 280mm×320mm，滿足多數(shù)微小精密器件的檢測(cè)需求以及可適配不同檢測(cè)場(chǎng)景。
智能便捷，兼顧效率與安全
操作方面，卓茂科技X5600力求簡(jiǎn)易化，鼠標(biāo)點(diǎn)擊即可快速直達(dá)載物臺(tái)任意觀察位置，降低上手難度。搭載的創(chuàng)新自研智能檢測(cè)軟件及圖像增強(qiáng)算法，進(jìn)一步提升檢測(cè)便捷性與圖像質(zhì)量。針對(duì)批量檢測(cè)場(chǎng)景，其 CNC 檢測(cè)功能可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)陣列快速自動(dòng)檢測(cè)，提高工作效率。
安全防護(hù)同樣到位，設(shè)備配備安全互鎖、空閑狀態(tài)自動(dòng)關(guān)閉射線源等多重機(jī)制，為檢測(cè)工作保駕護(hù)航。
卓茂科技X5600 X射線離線檢測(cè)設(shè)備，以精準(zhǔn)的成像、靈活的檢測(cè)方式、小巧的體型和便捷的操作，為微小精密器件檢測(cè)提供了可靠選擇，助力提升研發(fā)與品控效率。
